Probe Card

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Vertical Probe Card

Vertical Probe Card

【應用】

用於晶圓量階段高效(高密度、高同測DUT數)測試。

VC特性】

  • 的可彎曲式探Cobra
  • 應對不同待物體的PadDUT
  • 排列方式。
  • 客制化的不同Space Transformer
  • 滿足不同型需求

VS特性】

  • 應用於WLCSP品。
  • 採用彈簧針,有較高的超載
  • 電流及頻率。
  • 安裝及維護簡單。
  • 整體客制化。

VM特性】

  • MEMS 探針架構擁有預壓組裝性能在 Cu-pillar Al Pad的晶圓測試上,皆能保持佳穩定度及極低測試刮痕。在極窄間距的晶圓測試上, 也僅生極小刮損痕跡,進而有效增加耐用度並降低換針頻率。
  • 相當適合高針數(~30kpins/)、高電流及高測試需求。

市道格特科技有限公司(DGT),位於科技企業林立、中國改革開放第一市——市。道格特科技有限公司(DGT)專注於半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針等測試用探針Probe Card)設計、製造、維護,晶圓探針、LED點測針的銷售。