Probe Card

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Test Socket

Test Socket

【應用】

用於半導體封裝及IT模組類封裝測試,涵蓋但不限於存儲IC/邏輯功能測試座、高頻測試座、攝像頭,模組LCD模組,指紋識別模組測試座。(適用於BGA/LGA/QFN/QFP/WLCSP/SOPetc等多種測試座)。

IC自動測試治具】

  • 適合各種封裝形式的手動自動測試治具。
  • 測試間距0.30mm
  • 可根據需要定制與各類Handler配合的自動測試治具。

IC手動測試治具】

  • 適合各種封裝形式的手動自動測試治具。
  • 測試間距0.30mm
  • 可根據需要定制與各類Handler配合的自動測試治具。
  • 適合於CSPBGAmBGADIPPGAZIPPLCCPQPP
  • SQIPSOICQFPMLFQFNFBP等各類IC的測試。

【射頻IC測試治具】

  • 按需求定制各類RP射頻IC治具。
  • 頻率F10GH
  • 電阻,R=50ohm75ohm
  • 駐波比1.3

IC老化測試治具】

  • 可根據需要定制各類封裝IC的老化測試治具。
  • 溫度範圍-170℃~+200℃
  • 測試間距0.30mm

市道格特科技有限公司(DGT),位於科技企業林立、中國改革開放第一市——市。道格特科技有限公司(DGT)專注於半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針等測試用探針Probe Card)設計、製造、維護,晶圓探針、LED點測針的銷售。