【應用】
用於半導體封裝及IT模組類封裝測試,涵蓋但不限於存儲IC/邏輯功能測試座、高頻測試座、攝像頭,模組LCD模組,指紋識別模組測試座。(適用於BGA/LGA/QFN/QFP/WLCSP/SOPetc等多種測試座)。
【IC自動測試治具】
- 適合各種封裝形式的手動自動測試治具。
- 測試間距≥0.30mm。
- 可根據需要定制與各類Handler配合的自動測試治具。
【IC手動測試治具】
- 適合各種封裝形式的手動自動測試治具。
- 測試間距≥0.30mm。
- 可根據需要定制與各類Handler配合的自動測試治具。
- 適合於CSP、BGA、mBGA、DIP、PGA、ZIP、PLCC、PQPP、
- SQIP、SOIC、QFP、MLF、QFN、FBP等各類IC的測試。
【射頻IC測試治具】
- 按需求定制各類RP射頻IC治具。
- 頻率F≥10GH。
- 電阻,R=50ohm,75ohm。
- 駐波比≤1.3。
【IC老化測試治具】
- 可根據需要定制各類封裝IC的老化測試治具。
- 溫度範圍-170℃~+200℃。
- 測試間距≥0.30mm。
深圳市道格特科技有限公司(DGT),位於科技企業林立、中國改革開放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)專注於半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針卡等測試用探針卡(Probe Card)設計、製造、維護,晶圓探針、LED點測針的銷售。
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