非破壞性缺陷檢測

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【Southport】JadeMat - WBG 寬能隙半導體

【Southport】JadeMat - WBG 寬能隙半導體

Southport 的 JadeMat - WBG 結合非破壞性光學穿透技術與三維拉曼光譜,提供寬頻隙化合物半導體無損3D內部缺陷檢測與應力分析整體解決方案!

 

【功能特色】

  • 化合物半導體晶元 表面缺陷檢測:檢出 0.01 mm 之缺陷、髒污
  • GaN 表層 Doping Al+ 均勻度分析
  • 表面應力分析
  • 深度應力分析 / 深度晶格缺陷分析,穿透深度大於 10 µm
  • 量測項目:Bow / Warp 、表面缺陷、應力分析、摻雜均勻度、特定深度的應力分析
  • TCPIP 通訊界面
  • 第三方開發套件
  • 便捷超解析升級模組
 

【檢測方案優勢】

功能
檢測特性
方案優勢
穿透式檢測
非破壞性檢測,樣品不會產生光破壞
材料可重複驗證或流片到元件製作後分析
深層缺陷檢測
透過光束動,可精準在微小材料上選取特定取光譜之區域
不需手動及平臺移動,高速精準量測
客製化軟體
可依產品、製程建置專屬資料庫
大數據分析與良率回朔分析
應力擴充模組
可整合瞬態螢光、倍頻、超解析、低溫、電性、磁場…等等多種擴充模組
不需切換系統,原位導入多種量測方法,提升實驗效率
 

【產品規格】

JadeMat-WBG
(Wide Band Gap寬能隙半導體)
可檢測樣品
GaN, AlGaN, SiC, GaAs, InP, etc.
最小解析度
1 µm
光譜解析度
0.3 nm
適用雷射波長
440 mm x 440 mm x 500 mm
尺寸
224 nm - 1550 nm
適用二倍頻取樣雷射
700 nm - 1550 nm
二倍頻取像模組
無偏振 / 垂直 / 水平偏振

 

 

南方科技成立於2014年8月,創辦團隊集合了光學、材料、物理、資訊等跨領域人才,將新穎的光學設計觀念導入光學工程領域。透過先進光學簡單化、模組化、數位化的核心理念,使研究人員專注在研究開發工作,改善實驗設計觀念、提升研究效率、縮短研發時程、揮灑研發創意,加速研究與產業技術發展的進程。南方科技以『5D顯微術』與『數位光學』兩大核心技術為基礎,將嶄新的光學觀念與技術導入先進材料分析、生醫影像、顯微3D光學檢測與數位光學應用四大應用領域。在不同的應用領域,南方致力於研發與創新,深入瞭解行業痛點並且專注解決關鍵問題。