Probe Card

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SoC / Logic IC Probe Card

SoC / Logic IC Probe Card

【應用】

用於系統集成和邏輯類小尺寸Pad晶片晶圓的測試。可同時檢測Multi-DUT,降低測試成本,並可用於DigitalAnalogMixed signal 品。

【特性】

  • 對於接觸Pad 的穩定性高。
  •  應用特性 DUT採用Diagonal Shelf 結構,可降低測試成本。
  •  狹窄間距。
  • 交期短、成本低。

深圳市道格特科技有限公司(DGT),位於科技企業林立、中國改革開放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)專注於半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針卡等測試用探針卡(Probe Card)設計、製造、維護,晶圓探針、LED點測針的銷售。

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