Probe Card

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Parametric(WAT) Probe Card

Parametric(WAT) Probe Card

【應用】

對工程或量階段的工程晶圓片進行參數量測量分析。

【特性】

  • 超低漏電性、低電熱性。
  • 交期快、經濟。

 


市道格特科技有限公司(DGT),位於科技企業林立、中國改革開放第一市——市。道格特科技有限公司(DGT)專注於半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針等測試用探針Probe Card)設計、製造、維護,晶圓探針、LED點測針的銷售。