晶圓測試

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Memory Devices Probe Card

Memory Devices Probe Card

【應用】

用於記憶體晶片測試。

【特性】

  • 高針數,高同測DUT數。
  • 高低溫條件下結構特性穩定。
  • 凸出之MLC Pi電性特性。

深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)专注于半导体晶圆(IC)测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡(Probe Card)设计、制造、维护,晶圆探针、LED点测针的销售。

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