提供世界最先進的功率器件測試，滿足大電壓（2000V）,大電流（6000A）產品測試需求，並支持KGD（Know Good Die） Chip測試讓MCP（多晶片封裝）或SiP（系統級封裝）的良率提升，減少封裝成本因Bad Die所造成的浪費。
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AC Test System
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DC Test System
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特點 |
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規格 |
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ShibaSoku於1955年成立，以音訊測試起家，經歷過電視機及通信用測試裝置開發製造，並具有超過四十年的半導體測試設備開發生產經驗，近年專注高功率半導體測試，透過與日系車廠、電器廠商的合作，持續累積在功率半導體測試的核心競爭力。
