Probe Card

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CIS(CMOS Image Sensor) Probe Card

CIS(CMOS Image Sensor) Probe Card

【應用】

用於高階平板電腦及智慧手機鏡頭的有源圖元感測器晶片測試。

【特性】

  • 我司研發懸臂式垂直結構可拆卸式探針頭,易維護。
  • 定制設計可確保圖像感測器所需要的光源開口部。
  • 通過多DUT同測降低測試成本提高測試效率
  • 低滑動量可防止屑飛散。
  • 測試溫度範圍廣(從低溫到高溫)。
  • 高頻率。

市道格特科技有限公司(DGT),位於科技企業林立、中國改革開放第一市——市。道格特科技有限公司(DGT)專注於半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針等測試用探針Probe Card)設計、製造、維護,晶圓探針、LED點測針的銷售。