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微機電測試

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【AFORE】探針系統

【AFORE】探針系統
  • 專為微機電(MEMS)產品設計，實現客戶在晶片級封裝(CSP)的先進封裝製程進行晶圓級的最終測試，簡化生產製造流程，讓客戶的測試成本降到最低。
  • 提供MEMS測試全面性的產品，包括晶圓探針測試，多種激勵方式和封裝選項的測試機以及三溫測試。
  • 使用Ring Frame方式進行測試，有別於傳統Pick & Place，可避免元件損傷，提高生產效率。
 

【KRONOS 慣性感測器晶圓探針系統】

  • 可用於以下產品最終測試和校正：
  1. 加速度計
  2. 磁力計
  3. 陀螺儀
  4. 電子指南針
 

【AIOLOS 壓力感測器測試系統】

  • 可用於以下產品最終測試和校正：
  1. 壓力和真空偵測傳感器
  2. 氣體和濕度偵測傳感器
  • 需要真空及其他大氣環境下進行特徵測試的電子器件
 

【MPP 集成多軸磁場仿真性能的多功能探針台】

  • 可用於以下產品最終測試和校正：
  1. 磁力計及其他半導體電子器件

 

 

AFORE Oy

芬蘭商AFORE專注提供晶圓級(Wafer level)MEMS IC測試方案，提供low invest cost，和高UPH方案。AFORE已經得到眾多國際知名MEMS廠商品質驗證通過，可以實現加速計，陀螺儀，TPMS，環境和氣體等不同的MEMS IC測試。為了提供Lab級研發和小批量測試，AFORE經過多年完成了實驗室機台的METIS。