Power device test system

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AC test system

AC test system

AC test system

MOS/IGBT的AC測試用。裝置最小限度控制Ls,搭載有可高速切斷的保護電路對接觸夾具和待測DUT不會造成損害。

規格(測試專案)
  • L-SW、RRSOA、SCSOA
  • Vdd:50~1200V
  • Ic :10~1000A (SC ~3000A)
  • 手動切換L的方式
  • 可選擇Rg的R方式
 

ShibaSoku于1955年成立,以音訊測試起家,經歷過電視機及通信用測試裝置開發製造,並具有超過四十年的半導體測試設備開發生產經驗,近年專注高功率半導體測試,透過與日系車廠、電器廠商的合作,持續累積在功率半導體測試的核心競爭力。