晶圆测试

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Test Socket

Test Socket

【应用】

用于半导体封装及IT模组类封装测试,涵盖但不限于存储IC/逻辑功能测试座、高频测试座、摄像头,模组LCD模组,指纹识别模组测试座。(适用于BGA/LGA/QFN/QFP/WLCSP/SOPetc等多种测试座)。

【IC自动测试具】

  • 适合各种封装形式的手动自动测试治具。
  • 测试间距≥0.30mm
  • 可根据需要定制与各类Handler配合的自动测试治具。

IC动测试具】

  • 适合各种封装形式的手动自动测试治具。
  • 测试间距≥0.30mm
  • 可根据需要定制与各类Handler配合的自动测试治具。
  • 适合于CSPBGAmBGADIPPGAZIPPLCCPQPP
  • SQIPSOICQFPMLFQFNFBP等各类IC的测试。

【射IC测试具】

  • 按需求定制各类RP射频IC治具。
  • 频率F10GH
  • 电阻,R=50ohm75ohm
  • 驻波比≤1.3

IC老化测试治具】

  • 可根据需要定制各类封装IC的老化测试治具。
  • 温度范围-170~+200℃。
  • 测试间距≥0.30mm

深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)专注于半导体晶圆(IC)测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡(Probe Card)设计、制造、维护,晶圆探针、LED点测针的销售。