Probe Card

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SoC / Logic IC Probe Card

SoC / Logic IC Probe Card

【应用】

用于系统集成和逻辑类小尺寸Pad芯片晶圆的测试。可同时检测Multi-DUT,降低测试成本,并可用于DigitalAnalogMixed signal 等产品。

【特性】

  • 对于接触铝Pad 的稳定性高。
  •  应用特性 DUT采用Diagonal Shelf 结构,可降低测试成本。
  •  支撑狭窄间距。
  • 交期短、成本低。

深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)专注于半导体晶圆(IC)测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡(Probe Card)设计、制造、维护,晶圆探针、LED点测针的销售。