晶圆测试

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Parametric(WAT) Probe Card

Parametric(WAT) Probe Card

【应用】

对工程或量阶段的工程晶圆片进行参数量测量分析。

【特性】

  • 超低漏电性、低电热性。
  • 交期快、经济。

深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)专注于半导体晶圆(IC)测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡(Probe Card)设计、制造、维护,晶圆探针、LED点测针的销售。

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