提供世界最先进的功率器件测试，满足大电压（2000V）,大电流（6000A）产品测试需求，并支持KGD（Know Good Die） Chip测试让MCP（多芯片封装）或SiP（系统级封装）的良率提升，减少封装成本因Bad Die所造成的浪费。
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AC Test System
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DC Test System
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特点 |
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规格 |
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ShibaSoku于1955年成立，以音讯测试起家，经历过电视机及通信用测试装置开发制造，并具有超过四十年的半导体测试设备开发生产经验，近年专注高功率半导体测试，透过与日系车厂、电器厂商的合作，持续累积在功率半导体测试的核心竞争力。
