从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电
ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail
并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试
对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数
是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）
HANWA成立于1966年，总部设立在日本，是日本最大的ESD测试设备制造商。在晶片研发、生产、成品可靠性测试等阶段提供全面Solution。 HANWA提供ESD，TLP，CDM，Latch-up等静电放电测试设备，是全球唯一拥有Wafer Level及Package Level ESD Tester的设备供应商。产品覆盖Design House Fabless、Fab、OSAT等各应用领域，并可依照客户需求提供客制化解决方案。
