TLP

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HED-T5000(VF)

HED-T5000(VF)

HED-T5000(VF)

此设备配备了最先进的测试模式

具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式

有助于验证HBM/CDM模式的测试

对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波,都可在示波器上确认到

此数据会自动保存,并在专用的显示软件上表示

专用显示软件可对入射波/反射波的合计值,snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘

被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理

比如,对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等,可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异

并且可以与半自动探针台连接,实现TLP测试的自动化

由于可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位,所以能够很大地提升测试效率

 


HANWA成立于1966年,总部设立在日本,是日本最大的ESD测试设备制造商。在晶片研发、生产、成品可靠性测试等阶段提供全面Solution。 HANWA提供ESD,TLP,CDM,Latch-up等静电放电测试设备,是全球唯一拥有Wafer Level及Package Level ESD Tester的设备供应商。产品覆盖Design House Fabless、Fab、OSAT等各应用领域,并可依照客户需求提供客制化解决方案。