◆适应以下国际标准波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
◆该系统独特的短路放电电路可通过其原始机械设计实现。
◆短路最大限度地减少电感和电容对数据的影响。
◆使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性。
HANWA成立于1966年，总部设立在日本，是日本最大的ESD测试设备制造商。在晶片研发、生产、成品可靠性测试等阶段提供全面Solution。 HANWA提供ESD，TLP，CDM，Latch-up等静电放电测试设备，是全球唯一拥有Wafer Level及Package Level ESD Tester的设备供应商。产品覆盖Design House Fabless、Fab、OSAT等各应用领域，并可依照客户需求提供客制化解决方案。
