晶圆测试

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CIS(CMOS Image Sensor) Probe Card

CIS(CMOS Image Sensor) Probe Card

【应用】

用于高阶平板电脑及智能手机镜头的有源像素传感器芯片测试。

【特性】

  • 我司研发悬臂式垂直结构可拆卸式探针头,易维护。
  • 定制设计可确保图像传感器所需要的光源开口部。
  • 通过多DUT同测降低测试成本提高测试效率
  • 低滑动量可防止铝屑飞散。
  • 测试温度范围广(从低温到高温)。
  • 支撑高频率。

深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)专注于半导体晶圆(IC)测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡(Probe Card)设计、制造、维护,晶圆探针、LED点测针的销售。

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