晶圆测试

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Array Test Card

Array Test Card

 以将面板或屏幕良率最大化、废弃最小化、优化设备利用率及监测制造过程。

 


深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。道格特科技有限公司(DGT)专注于半导体晶圆(IC)测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡(Probe Card)设计、制造、维护,晶圆探针、LED点测针的销售。

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