Power device test system

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AC test system

AC test system

AC test system

MOS/IGBT的AC测试用。装置最小限度控制Ls,搭载有可高速切断的保护电路对接触夹具和待测DUT不会造成损害。

规格(测试项目)
  • L-SW、RRSOA、SCSOA
  • Vdd:50~1200V
  • Ic :10~1000A (SC ~3000A)
  • 手动切换L的方式
  • 可选择Rg的R方式
 

ShibaSoku于1955年成立,以音频测试起家,经历过电视机及通信用测试装置开发制造,并具有超过四十年的半导体测试设备开发生产经验,近年专注高功率半导体测试,透过与日系车厂、电器厂商的合作,持续累积在功率半导体测试的核心竞争力。